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非接觸3d光學輪廓儀

簡要描述:SuperViewW1非接觸3d光學輪廓儀能夠以優于納米級的分辨率,測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,具有測量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應變測量以及表面形貌測量。

  • 更新時間:2024-05-12
  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 訪  問  量:1755

詳細介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器產地類別國產
應用領域醫療衛生,電子,航天,汽車,綜合

SuperViewW1非接觸3d光學輪廓儀以白光干涉技術為原理,能夠以優于納米級的分辨率,測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數,所具有技術競爭力在于接觸式和光學三維輪廓儀的結合。主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,具有測量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應變測量以及表面形貌測量。


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技術參數

產品型號:SuperView W1系列

產品名稱:光學3D表面輪廓儀

影像系統:100萬~400萬像素可選

干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)

XY平臺:行程140X100mm、200X200mm、300X300mm可選   尺寸 320X200mm、300X300mm、450X450mm可選

Z軸行程:100mm,電動

Z向掃描范圍:10mm

Z向分辨率:0.1nm

可測樣品反射率:0.05%-100

水平調整范圍:±2°、±5°、±6°可選

粗糙度RMS重復性:0.005nm

臺階高測量:準確度0.3%,重復性0.08% 1σ

主要特點:非接觸式無損檢測,一鍵分析、測量速度快

生產企業:深圳市中圖儀器股份有限公司

注釋:更多詳細產品信息,請聯系我們獲取


應用范例1.jpg


SuperViewW1非接觸3d光學輪廓儀可以同時有探針掃描和樣品臺掃描兩種模式。探針掃描利用電壓驅動探針在大范圍達到500x500微米的區域內移動并且產生*分辨率的圖像。樣品臺掃描則是移動樣品臺來產生高分辨率的圖像。只需要一鍵,就可以切換兩種模式。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。


主要應用領域

1、用于太陽能電池測量;

2、用于半導體晶圓測量;

3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測量;

4、用于機械部件的計量;

5、用于塑料,金屬和其他復合型材料工件的測量。



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