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輪廓粗糙度光學測量儀

簡要描述:SuperViewW1輪廓粗糙度光學測量儀以白光干涉技術為原理,能夠以優于納米級的分辨率,測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數,廣泛應用于光學,半導體,材料,精密機械等等領域。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。

  • 更新時間:2024-05-12
  • 產品型號:SuperViewW1
  • 廠商性質:生產廠家
  • 訪  問  量:1333

詳細介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器價格區間面議
產品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別國產
應用領域生物產業,能源,交通,航天,汽車

SuperViewW1輪廓粗糙度光學測量儀具有表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。


產品功能

1)設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;

3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區域測量功能;

4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區域提取等四大模塊的數據處理功能;

5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。


SuperViewW1光學3D表面輪廓儀,白光干涉儀品牌.jpg


其中針對針對芯片封裝測試流程的測量需求,SuperViewW1非接觸式光學輪廓測量儀的X/Y方向標準行程為140*100mm,滿足減薄后晶圓表面大范圍多區域的粗糙度自動化檢測、鐳射槽深寬尺寸、鍍膜臺階高等微納米級別精度的測量。而SuperViewW1-Pro 型號增大了測量范圍,可覆蓋8英寸及以下晶圓,定制版真空吸附盤,穩定固定Wafer;氣浮隔振+殼體分離式設計,隔離地面震動與噪聲干擾。


SuperViewW1光學3D表面輪廓儀,白光干涉儀品牌.jpg


SuperViewW1輪廓粗糙度光學測量儀以白光干涉技術為原理,能夠以優于納米級的分辨率,測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數,廣泛應用于光學,半導體,材料,精密機械等等領域。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。

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